MLCC电容失效分析案例

电容在受到过强机械应力冲击时,一般会形成45度裂纹和Y型裂纹。 常见应力源: 工艺过程中电路板操作;流转过程中的人、设备、重力等因素;通孔元器件插入; 电路测试,单板分割;电路板安装;电路板点位铆接;螺丝安装等。 措施: ①选择合适的PCB厚度。 ②设计PCBA弯曲量时考虑MLCC能承受的弯曲量。 比较重的元器件尽量均匀摆放,减少生产过程

干货|全方位面的MLCC失效分析案例

首先使用超景深数码显微镜进行外观立体观察,检查电容表面是否有开裂,多角度检查引脚侧面焊锡爬升情况。电容外观完好,没有外部裂纹,焊锡爬升良好。 图16 X-ray检查. 对失效电容进行X射线检查,在电容右侧发现裂纹。 图17 切片分析超景深数码

MLCC失效模式与原因

mlcc(多层陶瓷电容器)在电子设备中起着重要作用,但由于其特殊的结构和工作原理,也容易失效。 本文将分析 MLCC 常见的故障模式及其原因,并提出预防措施。

元器件可信赖性失效分析系列-MLCC(第一名篇)_专业集成电路测试网-芯片

在产品正常使用情况下,失效的根本原因是MLCC 外部或内部存在如开裂、孔洞、分层等各种微观缺陷。 这些缺陷直接影响到MLCC产品的电性能、可信赖性,给产品质量带来严重的隐患。 主要由于器件在焊接特别是波峰焊时承受温度冲击所致,不当返修也是导致温度冲击裂纹的重要原因。 当贴片电容MLCC受到温度冲击时,容易从焊端开始产生裂纹。 在这点上,小

MLCC电容常见失效模式有哪些?该如何预防?

对电容进行金相切片处理,可以清楚地看出,电容内部裂纹起源于焊端附近,呈y字型,这是典型的机械应力裂纹形貌,对照可能的应力源排查,规范操作过程,最高终解决电容开裂问题。电路测试,单板分割;

MLCC电容常见失效案例,千万别踩坑!

首先使用超景深数码显微镜进行外观立体观察,检查电容表面是否有开裂,多角度检查引脚侧面焊锡爬升情况。电容外观完好,没有外部裂纹,焊锡爬升良好。 图16 X-ray检查. 对失效电容进行X射线检查,在电容右侧发现裂纹。 图17 切片分析超景深数码显微镜观察

《MLCC电容失效模式揭秘:机械、热、电裂纹分析及预防》_电容开裂

对电容进行金相切片处理,可以清楚地看出,电容内部裂纹起源于焊端附近,呈Y字型,这是典型的机械应力裂纹形貌,对照可能的应力源排查,规范操作过程,最高终解决电容开裂问题。 电路测试,单板分割;_电容开裂的几种情况.

贴片电容引起裂纹的原因是什么

陶瓷 贴片电容 mlcc中的机械裂纹引起的主因是什么? 引起机械裂纹的主要原因有两种。 第一名种是挤压裂纹,它产生在元件拾放在PCB板上的操作过程。

MLCC电容常见失效案例,千万别踩坑!

图1 电容焊锡量示意图. 图2 焊锡量过多造成电容开裂. 当温度发生变化时,过量的焊锡在贴片电容上产生很高的张力,会使电容内部断裂或者电容器脱帽,裂纹一般发生在焊锡少的一侧;焊锡量过少会造成焊接强度不足,电容从pcb 板上脱离,造成开路故障。

MLCC电容常见失效模式有哪些?该如何预防?

首先使用超景深数码显微镜进行外观立体观察,检查电容表面是否有开裂,多角度检查引脚侧面焊锡爬升情况。电容外观完好,没有外部裂纹,焊锡爬升良好。 图16 X-ray检查. 对失效电容进行X射线检查,在电容右侧发现裂纹。 图17 切片分析超景深数码显微镜观察

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